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Ausarbeitung

Hintergrund

Mit Hilfe der EMI-Referenzarchitektur, welches eine Architekturblaupause fur ein Messsystemdarstellt, ist es moglich eine eigene Messinfrastruktur zu schaen. Der konkreteNutzen einer solchen Infrastruktur entsteht meist erst dann, wenn verschiedenste Metriken hinzugefugt, aggregiert und genutzt werden, um Aussagen zu bestimmten Fragestellungen geben zu konnen. Die EMI-Referenzarchitektur selbst sieht keine Mertiken vor, bietet jedoch, aufgrund der gelungenen Schichtenarchitektur und Trennung verschiedenster Komponenten, eine einfache Moglichkeit eigene Metriken zu integrieren.

In bereits erstellten EMI Anwendung wie zum Beispiel myEMI, RIVER oder dem SSELab Dashboard, welche auf Grundlage des EMI-Frameworks erstellt wurden, konnte beobachtet werden, dass die Art und Weise der Umsetzung gewisser Komponenten, wie Datenadapter und Berechnungskernel, einer Metrik oft sehr identisch erfolgen. Jede Metrik verwendet dabei einen oder mehrere Datenadapter, besitzt Komponenten zum internen Senden und Empfangen von Nachrichten und enthalt meist einen eigenen Kernel zum Berechnen der Metriken. Es stellte sich heraus, dass die Entwicklung einer Metrik oft einem bestimmten Muster folgt. Aufgrund dieses “Vorgehensmuster” zur Entwicklung und Umsetzung einer Metrik, stellt sich die Folgefrage, ob ein solches Muster nicht auch fur die verschiedenen Teststufen einer/s Metrik/Services innerhalb einer EMI existiert oder erstellt werden kann.

Uberlegungen und Vergleich haben gezeigt, dass, durch die sich immer sehr ahnelnde Komponenten, die Art der Fehlerfalle auch meist sehr identisch sind. Durch gewisse Abstraktionder Fehlerfalle ware es schlussendlich moglich, Testmuster fur Metriken/Services innerhalb einer EMI Anwendung bereitzustellen.

Aufgabe

Das Ziel dieser Arbeit ist der Entwurf und die Beschreibung von Testpattern fur Anwendungen,welche sich an der EMI-Refernzarchitektur orientieren. Dabei sollen die grundlegenden Fehler, die durch eine Metrik bzw. Service auftreten konnen, klassiziertund beschrieben werden. Die Herleitung der Fehler soll mit Hilfe einer Spezikation einer Metrik uberpruft werden. Die dazu benotigte Spezikation wird an dem Beispiel von neuen Metriken, der Wiki-Metriken basierenden auf der EMI-Referenzarchitektur, erstellt.

Insbesondere die Anwendung aller drei, in der EMI-Referenzarchitektur beschrieben, Datenadaptierungsmuster soll durch die Wiki-Metriken sichergestellt werden. Auf Grundlage dieser Metriken werden dann, in einem weiteren Schritt, die konkreten Fehlerfalle klassiziert und beschrieben. Fur diese Fehlerfalle sollen dann die notigenTestpattern je Teststufe entworfen werden, wobei der Fokus insbesondere auf die Stufe der Integrationstest gelegt werden soll.

Als endgultiges Resultat soll dann, auf Grundlage der verschiedenen (einzelnen) Testpattern,ein umfassendes Testpattern je Komponente innerhalb der EMI-Referenzarchitektur gegeben werden. Die exemplarische Anwendung dieser Testpattern geschieht dann im letzten Kapitel der Ausarbeitung und soll als eine Art Hilfestellung, zur Anwendung und Umsetzung der Testpattern innerhalb einer EMI Anwendung und der Java EE Umgebung, dienen.

Als Fazit wird diese Anwendung evaluiert und es werden Ruckschlusse auf die Notwendigkeit und den Nutzen dieser Testpattern gegeben.

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